জানা গেছে যে মার্কিন যুক্তরাষ্ট্রের শক্তি বিভাগ (DOE) সম্প্রতি দীর্ঘমেয়াদী ত্বরিত জীবন পরীক্ষার উপর ভিত্তি করে তৃতীয় LED ড্রাইভার নির্ভরযোগ্যতা প্রতিবেদন প্রকাশ করেছে।ইউনাইটেড স্টেটস ডিপার্টমেন্ট অফ এনার্জির সলিড-স্টেট লাইটিং (SSL) এর গবেষকরা বিশ্বাস করেন যে সাম্প্রতিক ফলাফলগুলি ত্বরিত চাপ পরীক্ষা (AST) পদ্ধতিকে নিশ্চিত করেছে, যা বিভিন্ন কঠোর পরিস্থিতিতে ভাল কার্যকারিতা দেখিয়েছে।উপরন্তু, পরীক্ষার ফলাফল এবং পরিমাপ করা ব্যর্থতার কারণগুলি নির্ভরযোগ্যতা আরও উন্নত করার জন্য প্রাসঙ্গিক কৌশলগুলির ড্রাইভার বিকাশকারীদের অবহিত করতে পারে।

যেমনটি সুপরিচিত, LED ড্রাইভারগুলি, LED উপাদানগুলির মতো, সর্বোত্তম আলোর মানের জন্য অত্যন্ত গুরুত্বপূর্ণ।একটি উপযুক্ত ড্রাইভার ডিজাইন ফ্লিকার দূর করতে এবং অভিন্ন আলো সরবরাহ করতে পারে।এবং ড্রাইভার হল LED লাইট বা লাইটিং ফিক্সচারের ত্রুটির জন্য সবচেয়ে সম্ভাব্য উপাদান।ড্রাইভারের গুরুত্ব উপলব্ধি করার পর, DOE 2017 সালে একটি দীর্ঘমেয়াদী ড্রাইভার পরীক্ষার প্রকল্প শুরু করে। এই প্রকল্পে একক চ্যানেল এবং মাল্টি-চ্যানেল ড্রাইভার জড়িত, যা সিলিং গ্রুভের মতো ডিভাইস ঠিক করার জন্য ব্যবহার করা যেতে পারে।

মার্কিন যুক্তরাষ্ট্রের শক্তি বিভাগ এর আগে পরীক্ষার প্রক্রিয়া এবং অগ্রগতি সম্পর্কে দুটি প্রতিবেদন প্রকাশ করেছে।এখন এটি তৃতীয় টেস্ট ডেটা রিপোর্ট, যা AST শর্তে 6000-7500 ঘন্টার অপারেশনের পণ্য পরীক্ষার ফলাফল জড়িত।

আসলে, অনেক বছর ধরে স্বাভাবিক অপারেটিং পরিবেশে ড্রাইভ পরীক্ষা করার জন্য শিল্পের এত বেশি সময় নেই।বিপরীতে, ইউনাইটেড স্টেটস ডিপার্টমেন্ট অফ এনার্জি এবং এর ঠিকাদার আরটিআই ইন্টারন্যাশনাল অ্যাকচুয়েটর পরীক্ষা করেছে যাকে তারা 7575 পরিবেশ বলে – গৃহমধ্যস্থ আর্দ্রতা এবং তাপমাত্রা 75 ডিগ্রি সেলসিয়াসে রক্ষণাবেক্ষণ করা হয়। এই পরীক্ষায় ড্রাইভার পরীক্ষার দুটি ধাপ জড়িত, চ্যানেল.সিঙ্গেল স্টেজ ডিজাইনের খরচ কম, তবে এটিতে একটি আলাদা সার্কিটের অভাব রয়েছে যা প্রথমে AC কে DC তে রূপান্তর করে এবং তারপর কারেন্টকে নিয়ন্ত্রণ করে, যা দ্বি-পর্যায়ের ডিজাইনের জন্য অনন্য।

মার্কিন যুক্তরাষ্ট্রের শক্তি বিভাগ জানিয়েছে যে 11টি ভিন্ন ড্রাইভের পরীক্ষায়, সমস্ত ড্রাইভ 7575 পরিবেশে 1000 ঘন্টা ধরে চলে।যখন ড্রাইভটি একটি পরিবেশগত কক্ষে অবস্থিত, তখন ড্রাইভের সাথে সংযুক্ত LED লোডটি বাইরের পরিবেশগত অবস্থার অধীনে অবস্থিত, তাই AST পরিবেশ শুধুমাত্র ড্রাইভকে প্রভাবিত করে।DOE AST অবস্থার অধীনে অপারেটিং সময়কে স্বাভাবিক পরিবেশে অপারেটিং সময়ের সাথে সংযুক্ত করেনি।ডিভাইসের প্রথম ব্যাচ 1250 ঘন্টা অপারেশনের পরে ব্যর্থ হয়েছে, যদিও কিছু ডিভাইস এখনও চালু আছে।4800 ঘন্টা পরীক্ষার পর, 64% ডিভাইস ব্যর্থ হয়েছে।তবুও, কঠোর পরীক্ষার পরিবেশ বিবেচনা করে, এই ফলাফলগুলি ইতিমধ্যেই খুব ভাল।

গবেষকরা দেখেছেন যে বেশিরভাগ ত্রুটি ড্রাইভারের প্রথম পর্যায়ে ঘটে, বিশেষ করে পাওয়ার ফ্যাক্টর সংশোধন (PFC) এবং ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক ইন্টারফারেন্স (EMI) দমন সার্কিটে।ড্রাইভারের উভয় পর্যায়ে, MOSFET-এরও ত্রুটি রয়েছে।PFC এবং MOSFET এর মতো ক্ষেত্রগুলি নির্দিষ্ট করার পাশাপাশি যেগুলি ড্রাইভারের নকশা উন্নত করতে পারে, এই AST এছাড়াও নির্দেশ করে যে ত্রুটিগুলি সাধারণত ড্রাইভারের কর্মক্ষমতা নিরীক্ষণের উপর ভিত্তি করে ভবিষ্যদ্বাণী করা যেতে পারে।উদাহরণ স্বরূপ, পাওয়ার ফ্যাক্টর এবং সার্জ কারেন্ট মনিটরিং আগে থেকেই প্রাথমিক ত্রুটি সনাক্ত করতে পারে।ফ্ল্যাশিং বৃদ্ধি ইঙ্গিত করে যে একটি ত্রুটি ঘটতে চলেছে।

দীর্ঘদিন ধরে, DOE-এর SSL প্রোগ্রাম SSL ক্ষেত্রে গুরুত্বপূর্ণ পরীক্ষা এবং গবেষণা পরিচালনা করে আসছে, যার মধ্যে রয়েছে গেটওয়ে প্রকল্পের অধীনে অ্যাপ্লিকেশন দৃশ্যকল্পের পণ্য পরীক্ষা এবং ক্যালিপার প্রকল্পের অধীনে বাণিজ্যিক পণ্যের কর্মক্ষমতা পরীক্ষা।